دانلود کتاب Dielectric Properties of Isolated Clusters: Beam Deflection Studies
کتاب خواص دی الکتریک خوشه های جدا شده: مطالعات انحراف پرتو نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب خواص دی الکتریک خوشه های جدا شده: مطالعات انحراف پرتو بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Dielectric Properties of Isolated Clusters: Beam Deflection Studies
نام کتاب : Dielectric Properties of Isolated Clusters: Beam Deflection Studies
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : خواص دی الکتریک خوشه های جدا شده: مطالعات انحراف پرتو
سری : SpringerBriefs in Molecular Science - SpringerBriefs in Electrical and Magnetic Properties of Atoms, Molecules, and Clusters
نویسندگان : Sven Heiles, Rolf Schäfer (auth.)
ناشر : Springer Netherlands
سال نشر : 2014
تعداد صفحات : 102
ISBN (شابک) : 9789400778658 , 9789400778665
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 4 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
طیف گسترده ای از روش های پیشرفته برای تعیین ویژگی های خوشه ها ارائه شده است. تنظیمات آزمایشی و مفاهیم فیزیکی زیربنایی این آزمایش ها شرح داده شده است.
علاوه بر این، مدل‌های نظری موجود برای توضیح مشاهدات تجربی معرفی شده و امکان استنتاج اطلاعات ساختاری از اندازه‌گیری‌های خواص دی الکتریک مورد بحث قرار می‌گیرد.
مطالعات موردی اضافی در کتاب ارائه شده است تا بر احتمالات و همچنین معایب روش ها تأکید شود.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages i-vi
Introduction....Pages 1-5
Molecular Beam Electric Field Deflection: Experimental Considerations....Pages 7-16
Molecular Beam Electric Field Deflection: Theoretical Description....Pages 17-59
Case Studies....Pages 61-79
Novel Experimental Tools....Pages 81-94
Summary....Pages 95-97
Back Matter....Pages 99-100
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
A broad range of state-of-the-art methods to determine properties of clusters are presented. The experimental setup and underlying physical concepts of these experiments are described.
Furthermore, existing theoretical models to explain the experimental observations are introduced and the possibility to deduce structural information from measurements of dielectric properties is discussed.
Additional case studies are presented in the book to emphasize the possibilities but also drawbacks of the methods.