دانلود کتاب Electrothermal Analysis of VLSI Systems
کتاب تجزیه و تحلیل الکتروترمال سیستم های VLSI نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب تجزیه و تحلیل الکتروترمال سیستم های VLSI بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Electrothermal Analysis of VLSI Systems
نام کتاب : Electrothermal Analysis of VLSI Systems
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : تجزیه و تحلیل الکتروترمال سیستم های VLSI
سری :
نویسندگان : Yi-Kan Cheng, Ching-Han Tsai, Chin-Chi Teng, Sung-Mo Steve Kang (auth.)
ناشر : Springer US
سال نشر : 2002
تعداد صفحات : 217
ISBN (شابک) : 9780792378617 , 9780306470240
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 7 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
تحلیل الکتروترمال سیستم‌های VLSI به مشکلات الکتروترمال در سیستم‌های VLSI مدرن می‌پردازد.
بخش اول، بلوک‌های ساختمانی، پدیده‌های الکتروگرمایی و بلوک‌های ساختمانی اساسی را که شبیه‌سازی الکتروترمال به آن نیاز دارد (شامل تجزیه و تحلیل توان، مدل‌سازی دستگاه وابسته به دما، شبیه‌سازی حرارتی/الکتروترمال، و تنظیم-کالیبراسیون تجربی) مورد بحث قرار می‌دهد.
بخش دوم، برنامه‌ها، سه کاربرد مهم تجزیه و تحلیل الکتروترمال VLSI را مورد بحث قرار می‌دهد که شامل تشخیص مهاجرت الکتریکی وابسته به دما، قرارگیری حرارتی در سطح سلول و تجزیه و تحلیل قدرت و زمان‌بندی مبتنی بر دما است.
تحلیل الکتروترمال سیستم‌های VLSI برای محققان در زمینه‌های تجزیه و تحلیل قابلیت اطمینان IC و طراحی فیزیکی و همچنین طراحان VLSI و دانشجویان تحصیلات تکمیلی مفید خواهد بود.
فهرست مطالب :
Introduction....Pages 3-19
Power Analysis for CMOS Circuits....Pages 21-43
Temperature-dependent MOS Device Modeling....Pages 45-59
Thermal Simulation for VLSI Systems....Pages 61-93
Fast-timing Electrothermal Simulation....Pages 95-117
Temperature-dependent Electromigration Reliability....Pages 121-155
Temperature-driven Cell Placement....Pages 157-179
Temperature-driven Power and Timing Analysis....Pages 181-202
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
Electrothermal Analysis of VLSI Systems addresses electrothermal problems in modern VLSI systems.
Part I, The Building Blocks, discusses electrothermal phenomena and the fundamental building blocks that electrothermal simulation requires (including power analysis, temperature-dependent device modeling, thermal/electrothermal simulation, and experimental setup-calibration).
Part II, The Applications, discusses three important applications of VLSI electrothermal analysis including temperature-dependent electromigration diagnosis, cell-level thermal placement and temperature-driven power and timing analysis.
Electrothermal Analysis of VLSI Systems will be useful for researchers in the fields of IC reliability analysis and physical design, as well as VLSI designers and graduate students.