دسته: فیزیک
دانلود کتاب پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : High resolution X-ray diffractometry and topography
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : پراش سنجی و توپوگرافی اشعه ایکس با وضوح بالا
سری :
نویسندگان : D.K. Bowen, Brian K. Tanner
ناشر : Taylor & Francis
سال نشر : 1998
تعداد صفحات : 278
ISBN (شابک) : 0850667585 , 9780203979198
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 8 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.