ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA

دانلود کتاب ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA

50000 تومان موجود

کتاب ISTFA 2007: مجموعه مقالات سی و سومین سمپوزیوم بین المللی برای تست و تجزیه و تحلیل شکست، 4-8 نوامبر 2007، مرکز کنوانسیون سن خوزه مک انری، سن خوزه، کالیفرنیا، ایالات متحده آمریکا نسخه زبان اصلی

دانلود کتاب ISTFA 2007: مجموعه مقالات سی و سومین سمپوزیوم بین المللی برای تست و تجزیه و تحلیل شکست، 4-8 نوامبر 2007، مرکز کنوانسیون سن خوزه مک انری، سن خوزه، کالیفرنیا، ایالات متحده آمریکا بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید


این کتاب نسخه اصلی می باشد و به زبان فارسی نیست.


امتیاز شما به این کتاب (حداقل 1 و حداکثر 5):

امتیاز کاربران به این کتاب:        تعداد رای دهنده ها: 2


توضیحاتی در مورد کتاب ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA

نام کتاب : ISTFA 2007 : proceedings of the 33rd International Symposium for Testing and Failure Analysis, November 4-8, 2007, San Jose McEnery Convention Center, San Jose, California, USA
عنوان ترجمه شده به فارسی : ISTFA 2007: مجموعه مقالات سی و سومین سمپوزیوم بین المللی برای تست و تجزیه و تحلیل شکست، 4-8 نوامبر 2007، مرکز کنوانسیون سن خوزه مک انری، سن خوزه، کالیفرنیا، ایالات متحده آمریکا
سری :
نویسندگان :
ناشر : ASM International
سال نشر : 2007
تعداد صفحات : 371
ISBN (شابک) : 9780871708632 , 1615030905
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 41 مگابایت



بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.


فهرست مطالب :


Content: ""Contents""
""Session 1: Emerging Concepts""
""Session 2: Circuit Edit 1""
""Session 3: SPM Techniques""
""Session 4: Sample Preparation""
""Session 5: Photon Based Techniques""
""Session 6: In-Line Metrology and Inspection""
""Session 7: Package and Assembly Level FA 1""
""Session 8: Posters""
""Session 9: Package and Assembly Level FA 2""
""Session 10: Nanoprobing""
""Session 11: Package and Assembly Level FA 3""
""Session 12: Failure Analysis Process 1""
""Session 13: Yield Enhancement""
""Session 14: System Level Analysis and Test""
""Session 15: Circuit Edit 2""




پست ها تصادفی