Analog Circuit Design for Process Variation-Resilient Systems-on-a-Chip

دانلود کتاب Analog Circuit Design for Process Variation-Resilient Systems-on-a-Chip

52000 تومان موجود

کتاب طراحی مدار آنالوگ برای سیستم‌های ارتجاعی با تغییرات فرآیندی روی یک تراشه نسخه زبان اصلی

دانلود کتاب طراحی مدار آنالوگ برای سیستم‌های ارتجاعی با تغییرات فرآیندی روی یک تراشه بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید


این کتاب نسخه اصلی می باشد و به زبان فارسی نیست.


امتیاز شما به این کتاب (حداقل 1 و حداکثر 5):

امتیاز کاربران به این کتاب:        تعداد رای دهنده ها: 4


توضیحاتی در مورد کتاب Analog Circuit Design for Process Variation-Resilient Systems-on-a-Chip

نام کتاب : Analog Circuit Design for Process Variation-Resilient Systems-on-a-Chip
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : طراحی مدار آنالوگ برای سیستم‌های ارتجاعی با تغییرات فرآیندی روی یک تراشه
سری :
نویسندگان : ,
ناشر : Springer-Verlag New York
سال نشر : 2012
تعداد صفحات : 183
ISBN (شابک) : 1461422957 , 9781461422952
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 6 مگابایت



بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.

توضیحاتی در مورد کتاب :




این کتاب چندین تکنیک را برای رسیدگی به چالش‌های طراحی مرتبط با تغییرات برای بلوک‌های آنالوگ در سیستم‌های سیگنال مختلط روی تراشه توضیح می‌دهد. روش‌های ارائه‌شده نتایج حاصل از تحقیقات اخیر شامل مدارهای جلویی گیرنده، خطی‌سازی فیلتر باند پایه و تبدیل داده‌ها هستند. این تکنیک‌های سطح مدار، با روابطشان با رویکردهای کالیبراسیون در سطح سیستم در حال ظهور، برای تنظیم عملکرد مدارهای آنالوگ با کمک یا کنترل دیجیتال توصیف شده‌اند. پوشش همچنین شامل یک استراتژی برای استفاده از سنسورهای دمای روی تراشه برای اندازه‌گیری قدرت سیگنال و ویژگی‌های خطی مدارهای آنالوگ/RF است، همانطور که توسط اندازه‌گیری‌های تراشه آزمایشی نشان داده شده است.

  • انواع نمونه‌های طراحی مدار آنالوگ مقاوم در برابر تغییرات را شرح می‌دهد، از جمله از قسمت‌های جلویی RF، ADC‌های با کارایی بالا و فیلترهای باند پایه؛
  • شامل تکنیک‌های تست داخلی ، مرتبط با روندهای صنعتی فعلی؛
  • تنظیم عملکرد به کمک دیجیتال با روش های تنظیم عملکرد آنالوگ و کاهش عدم تطابق را متعادل می کند؛
  • مفاهیم نظری و همچنین نتایج تجربی را برای تراشه های آزمایشی طراحی شده با تغییرات توصیف می کند. -تکنیک های آگاه.


فهرست مطالب :


Front Matter....Pages i-xviii
Introduction....Pages 1-7
Process Variation Challenges and Solutions Approaches....Pages 9-30
High-Linearity Transconductance Amplifiers with Digital Correction Capability....Pages 31-56
Multi-Bit Quantizer Design for Continuous-Time Sigma-Delta Modulators with Reduced Device Matching Requirements....Pages 57-85
An On-Chip Temperature Sensor for the Measurement of RF Power Dissipation and Thermal Gradients....Pages 87-112
Mismatch Reduction for Transistors in High-Frequency Differential Analog Signal Paths....Pages 113-149
Summary and Conclusions....Pages 151-154
Back Matter....Pages 155-173

توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :


This book describes several techniques to address variation-related design challenges for analog blocks in mixed-signal systems-on-chip. The methods presented are results from recent research works involving receiver front-end circuits, baseband filter linearization, and data conversion. These circuit-level techniques are described, with their relationships to emerging system-level calibration approaches, to tune the performances of analog circuits with digital assistance or control. Coverage also includes a strategy to utilize on-chip temperature sensors to measure the signal power and linearity characteristics of analog/RF circuits, as demonstrated by test chip measurements.

  • Describes a variety of variation-tolerant analog circuit design examples, including from RF front-ends, high-performance ADCs and baseband filters;
  • Includes built-in testing techniques, linked to current industrial trends;
  • Balances digitally-assisted performance tuning with analog performance tuning and mismatch reduction approaches;
  • Describes theoretical concepts as well as experimental results for test chips designed with variation-aware techniques.




پست ها تصادفی