دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی تحلیلی برای علم مواد بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Analytical Electron Microscopy for Materials Science
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : میکروسکوپ الکترونی تحلیلی برای علم مواد
سری :
نویسندگان : Daisuke Shindo, Tetsuo Oikawa (auth.)
ناشر : Springer Tokyo
سال نشر : 2002
تعداد صفحات : 161
ISBN (شابک) : 9784431703365 , 9784431669883
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 9 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
میکروسکوپ الکترونی تحلیلی یکی از قدرتمندترین ابزارهای امروزی برای شناسایی مواد پیشرفته ای است که از فناوری نانو قرن بیست و یکم پشتیبانی می کنند. در این کتاب نویسندگان به روشنی هم اصول اساسی و هم آخرین تحولات در این زمینه را توضیح می دهند. علاوه بر توصیف اساسی فرآیند پراکندگی غیر کشسان، توضیحی در مورد سخت افزار تشکیل دهنده ارائه شده است. تکنیکهای تحلیلی کمی استاندارد با استفاده از طیفسنجی از دست دادن انرژی الکترون و طیفسنجی پرتو ایکس پراکنده انرژی نیز همراه با تکنیکهای نگاشت عنصری توضیح داده شدهاند. شامل بخش هایی در مورد پراش الکترون پرتو همگرا و هولوگرافی الکترونی با استفاده از تفنگ انتشار میدانی است. با استفاده سخاوتمندانه از تصاویر و دادههای تجربی، این کتاب منبع ارزشمندی برای هر کسی است که با مشخصات مواد، میکروسکوپ الکترونی، علم مواد، کریستالوگرافی و ابزار دقیق مرتبط است.
Analytical electron microscopy is one of the most powerful tools today for characterization of the advanced materials that support the nanotechnology of the twenty-first century. In this book the authors clearly explain both the basic principles and the latest developments in the field. In addition to a fundamental description of the inelastic scattering process, an explanation of the constituent hardware is provided. Standard quantitative analytical techniques employing electron energy-loss spectroscopy and energy-dispersive X-ray spectroscopy are also explained, along with elemental mapping techniques. Included are sections on convergent beam electron diffraction and electron holography utilizing the field emission gun. With generous use of illustrations and experimental data, this book is a valuable resource for anyone concerned with materials characterization, electron microscopy, materials science, crystallography, and instrumentation.