دانلود کتاب Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
کتاب ویژگی‌های مقیاس اتمی و مطالعات اصول اولیه رابط‌های Si₃N4 نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب ویژگی‌های مقیاس اتمی و مطالعات اصول اولیه رابط‌های Si₃N4 بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
نام کتاب : Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of Si₃N₄ Interfaces
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : ویژگی‌های مقیاس اتمی و مطالعات اصول اولیه رابط‌های Si₃N4
سری : Springer Theses
نویسندگان : Weronika Walkosz (auth.)
ناشر : Springer-Verlag New York
سال نشر : 2011
تعداد صفحات : 113
ISBN (شابک) : 9781441978165 , 9781441978172
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 4 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
پست ها تصادفی