توضیحاتی در مورد کتاب :
در حال حاضر، در یک کتاب، پوششی از تکنیکهای تحلیلی سطح مدرن بهطور خاص برای مواد کامپوزیت اعمال میشود. با تمرکز بر خصوصیات طیفسنجی کامپوزیتها و کامپوزیتهای ماتریس پلیمری، ویژگیهای کامپوزیت
مواد تکنیکهایی را با کاربرد نشاندادهشده برای مطالعات کامپوزیت همراه با تکنیکهای جدید امیدوارکننده مانند STM/AFM و طیفسنجی رامان ویژه پوشش میدهد. هر فصل یک تکنیک خاص را پوشش میدهد و اطلاعات اولیه، نظریههای تکنیک، و مثالهای کاربردی، از جمله کاربردهای پیشرفته آیندهنگر را ارائه میدهد. اطلاعات دقیق در مورد تکنیکهای مشخصسازی فردی ذکر شده را میتوان در دایره المعارف Cahracterization مواد، حجم همراه در سری مشخصهسازی مواد: سطوح، رابطها، لایههای نازک یافت.
فهرست مطالب :
Content:
MATERIALS CHARACTERIZATION SERIES, Page ii
Front Matter, Page iii
Copyright, Page iv
Preface to Series, Page x, C.R. Brundle, C.A. Evans
Preface, Page xi, Hatsuo Ishida
Acronyms, Page xii
Contributors, Pages xiii-xiv
1 - X-Ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and Electron Spectroscopy for Chemical Analysis (ESCA), Pages 1-25, JOHN G. DILLARD
2 - Raman Spectroscopy, Pages 26-43, F. JAMES BOERIO, WEN-HSIEN TSAI
3 - NMR Imaging of Composites, Pages 44-63, JACK L. KOENIG
4 - NMR Studies of Isotope-Enriched Species at Interfaces, Pages 64-79, FRANK D. BLUM
5 - Inverse Gas Chromatography, Pages 80-104, DARYL WILLIAMS
6 - Dielectric Spectroscopy, Pages 105-128, GYÖRGY BÁNHEGYI
7 - Imaging and Characterization of Materials by the New Scanning Probe Techniques (STM/AFM), Pages 129-146, P.C.M. GRIM, G. HADZIIOANNOU
8 - Elastic and Viscoelastic Behavior of Composites, Pages 147-183, ROBERT A. SHICK, HATSUO ISHIDA
9 - Infrared Spectroscopy for Composites, Pages 184-271, TAKESHI OHWAKI, HATSUO ISHIDA
Index, Pages 273-277
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
Now, in one book, there is coverage of modern surface analytical techniques applied specifically to composite materials. Centering around spectroscopic characterization of composites and polymer-matrix composities, Characterization of Composite
Materials covers techniques with a demonstrated use for composite stuides along with promising new techniques such as STM/AFM and special Raman spectroscopy. Each chapter will cover a specific technique and will provide basic background information, theories of the technique, and application examples, including futuristic state-of-the-art applications. Detailed information about the individual characterization techniques mentioned can be found in the Encyclopaedia of Materials Cahracterization, the companion volume in the Materials Characterization Series: surfaces, interfaces, thin films