Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1

دانلود کتاب Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1

39000 تومان موجود

کتاب خصوصیات مواد نیمه هادی - اصول و روش ها، جلد 1 نسخه زبان اصلی

دانلود کتاب خصوصیات مواد نیمه هادی - اصول و روش ها، جلد 1 بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید


این کتاب نسخه اصلی می باشد و به زبان فارسی نیست.


امتیاز شما به این کتاب (حداقل 1 و حداکثر 5):

امتیاز کاربران به این کتاب:        تعداد رای دهنده ها: 2


توضیحاتی در مورد کتاب Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1

نام کتاب : Characterization of Semiconductor Materials - Principles and Methods, Volume 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : خصوصیات مواد نیمه هادی - اصول و روش ها، جلد 1
سری :
نویسندگان : ,
ناشر : William Andrew Publishing/Noyes
سال نشر : 1989
تعداد صفحات : 240
ISBN (شابک) : 9780815516347 , 9780815512004
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 11 مگابایت



بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.

توضیحاتی در مورد کتاب :


خصوصیات مواد نیمه هادی و روش های مورد استفاده برای توصیف آنها در این سری جدید Noyes به طور گسترده توضیح داده خواهد شد. این مجموعه که توسط کارشناسان در هر زمینه موضوعی نوشته شده است، به روزترین اطلاعات موجود در این زمینه به سرعت در حال پیشرفت را ارائه می دهد. شامل فصل هایی در مورد مشخصه های الکتریکی، طیف سنجی جرمی یون، طیف سنجی فوتوالکترون، برهمکنش های یون/جامد و موارد دیگر است.

فهرست مطالب :



Content:
Front Matter
• Preface
• Table of Contents
1. Electrical Characterization of Semiconductor Materials and Devices
2. Secondary Ion Mass Spectrometry
3. Photoelectron Spectroscopy: Applications to Semiconductors
4. Ion/Solid Interactions in Surface Analysis
5. Molecular Characterization of Dielectric Films by Laser Raman Spectroscopy
6. Characterization of Semiconductor Surfaces by Appearance Potential Spectroscopy
Index

توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :


Characterization of semiconductor materials and methods used to characterize them will be described extensively in this new Noyes series. Written by experts in each subject area, the series will present the most up-to-date information available in this rapidly advancing field. Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, Ion/Solid Interactions and more.



پست ها تصادفی