دانلود کتاب الکترون نانو تصویربرداری: مبانی تصویربرداری و پراش برای TEM و STEM بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Electron Nano-Imaging: Basics of Imaging and Diffraction for TEM and STEM
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : الکترون نانو تصویربرداری: مبانی تصویربرداری و پراش برای TEM و STEM
سری :
نویسندگان : Nobuo Tanaka (auth.)
ناشر : Springer Japan
سال نشر : 2017
تعداد صفحات : 340
ISBN (شابک) : 9784431565024 , 9784431565000
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 9 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
در این کتاب مبانی تصویربرداری و پراش در میکروسکوپ الکترونی عبوری (TEM) و میکروسکوپ الکترونی عبوری روبشی (STEM) به سبک کتاب درسی توضیح داده شده است. این کتاب بر توضیح تصویربرداری میکروسکوپی الکترونی از TEM و STEM بدون گنجاندن در متن اصلی اطلاعات حواسپرتی در مورد دانش اولیه پراش کریستال، اپتیک موج، عدسیهای الکترونی و تئوریهای پراکندگی و پراش تمرکز دارد که به طور جداگانه در پیوستها توضیح داده شدهاند. توضیح جامعی بر اساس نظریه تبدیل فوریه ارائه شده است و این رویکرد در مقایسه با سایر منابع پیشرفته در میکروسکوپ الکترونی با وضوح بالا منحصر به فرد است. با کتاب درسی حاضر، خوانندگان به درک ماهیت تئوری های تصویربرداری TEM و STEM هدایت می شوند بدون اینکه دانش دیگر میکروسکوپ الکترونی منحرف شوند. اطلاعات به روز در این کتاب، به ویژه در مورد جزئیات تصویربرداری تصحیحات STEM و انحراف، در سراسر جهان برای دانشجویان فارغ التحصیل و متخصصان امروزی که تازه کار خود را شروع می کنند ارزشمند است.
In this book, the bases of imaging and diffraction in transmission electron microscopy (TEM) and scanning transmission electron microscopy (STEM) are explained in the style of a textbook. The book focuses on the explanation of electron microscopic imaging of TEM and STEM without including in the main text distracting information on basic knowledge of crystal diffraction, wave optics, electron lens, and scattering and diffraction theories, which are explained separately in the appendices. A comprehensive explanation is provided on the basis of Fourier transform theory, and this approach is unique in comparison with other advanced resources on high-resolution electron microscopy. With the present textbook, readers are led to understand the essence of the imaging theories of TEM and STEM without being diverted by other knowledge of electron microscopy. The up-to-date information in this book, particularly on imaging details of STEM and aberration corrections, is valuable worldwide for today’s graduate students and professionals just starting their careers.