دانلود کتاب قابلیت اطمینان و فناوری اندازه گیری الکترونیک ارزیابی غیر مخرب بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Electronics Reliability and Measurement Technology. Nondestructive Evaluation
عنوان ترجمه شده به فارسی : قابلیت اطمینان و فناوری اندازه گیری الکترونیک ارزیابی غیر مخرب
سری :
نویسندگان : Joseph S. Heyman (Eds.)
ناشر : Noyes Data Corp
سال نشر : 1988
تعداد صفحات : 132
ISBN (شابک) : 9780815511717
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 5 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.