توضیحاتی در مورد کتاب :
مقیاس بندی دستگاه های نیمه هادی از ابعاد زیر میکرون تا نانومتری نیاز به درک طراحی مدارهای تخلیه الکترواستاتیک (ESD) را برانگیخته است و پاسخ این مدارهای مجتمع (IC) به پدیده های ESD. مدارها و دستگاه های ESD بینش روشنی را ارائه می دهد به طرح و طراحی مدار برای محافظت در برابر فشار بیش از حد الکتریکی (EOS) و ESD. با تاکید بر مثالها، این متن: روشهای طراحی ESD بافر، بالاستینگ، توزیع جریان، تقسیمبندی طراحی، بازخورد، کوپلینگ و جداسازی روشهای طراحی ESD را توضیح میدهد؛ مدلهای تحلیلی اساسی و نتایج تجربی برای طراحی ESD ماسفتها و نیمهرسانای دیودی را تشریح میکند. عناصر دستگاه، با تمرکز بر CMOS، سیلیکون روی عایق (SOI) و سیلیکون ژرمانیوم (SiGe)؛ بر طراحی ESD، بهینه سازی، ادغام و سنتز این عناصر و مفاهیم در شبکه های ESD و همچنین به کارگیری در شبکه های ESD تمرکز دارد. شبکه های راننده خارج از تراشه و گیرنده های روی تراشه. و مدارهای ورودی ESD و همچنین شبکه های گیره برق ESD را برجسته می کند. در ادامه مجموعه کتاب های نویسنده در مورد ESD، این کتاب مرجع ارزشمندی برای مهندس حرفه ای تراشه نیمه هادی و سیستم ESD خواهد بود. مهندسین تجزیه و تحلیل خرابی و کیفیت دستگاه و فرآیندهای نیمه هادی نیز آن را یک ابزار ضروری می دانند. علاوه بر این، هم دانشجویان ارشد و هم دانشجویان کارشناسی ارشد در میکروالکترونیک و طراحی آی سی نمونه های متعدد آن را مفید خواهند یافت.
فهرست مطالب :
Content: Electrostatic discharge --
Design synthesis --
Electrostatic discharge (EDS) design : MOSFET design --
Electrostatic discharge (ESD) design : diode design --
Silicon on insulator (SOI) ESD design --
Off-chip drivers (OCD) and ESD --
Receiver circuits and ESD --
SOI ESD circuits and design integration --
ESD power clamps.
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
The scaling of semiconductor devices from sub-micron to nanometer dimensions is driving the need for understanding the design of electrostatic discharge (ESD) circuits, and the response of these integrated circuits (IC) to ESD phenomena.ESD Circuits and Devices provides a clear insight into the layout and design of circuitry for protection against electrical overstress (EOS) and ESD. With an emphasis on examples, this text:explains ESD buffering, ballasting, current distribution, design segmentation, feedback, coupling, and de-coupling ESD design methods;outlines the fundamental analytical models and experimental results for the ESD design of MOSFETs and diode semiconductor device elements, with a focus on CMOS, silicon on insulator (SOI), and Silicon Germanium (SiGe) technology;focuses on the ESD design, optimization, integration and synthesis of these elements and concepts into ESD networks, as well as applying within the off-chip driver networks, and on-chip receivers; andhighlights state-of-the-art ESD input circuits, as well as ESD power clamps networks.Continuing the author’s series of books on ESD, this book will be an invaluable reference for the professional semiconductor chip and system ESD engineer. Semiconductor device and process development, quality, reliability and failure analysis engineers will also find it an essential tool. In addition, both senior undergraduate and graduate students in microelectronics and IC design will find its numerous examples useful.