دانلود کتاب تکنیکهای رسمی در سیستمهای بلادرنگ و تحملپذیر خطا: پنجمین سمپوزیوم بینالمللی، FTRTFT’98 لینگبی، دانمارک، 14 تا 18 سپتامبر 1998 مجموعه مقالات بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Formal Techniques in Real-Time and Fault-Tolerant Systems: 5th International Symposium, FTRTFT’98 Lyngby, Denmark, September 14–18, 1998 Proceedings
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : تکنیکهای رسمی در سیستمهای بلادرنگ و تحملپذیر خطا: پنجمین سمپوزیوم بینالمللی، FTRTFT’98 لینگبی، دانمارک، 14 تا 18 سپتامبر 1998 مجموعه مقالات
سری : Lecture Notes in Computer Science 1486
نویسندگان : John C. Knight (auth.), Anders P. Ravn, Hans Rischel (eds.)
ناشر : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر : 1998
تعداد صفحات : 345
ISBN (شابک) : 9783540650034 , 9783540497929
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 5 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
این کتاب مجموعه مقالات داوری پنجمین سمپوزیوم بینالمللی تکنیکهای رسمی در سیستمهای بیدرنگ و تحملپذیر خطا، FTRTFT'98 است که در لینگبی، دانمارک، در سپتامبر 1998 برگزار شد.
22 مقاله کامل اصلاحشده ارائه شده است. برای گنجاندن در کتاب به دقت انتخاب و بررسی شدند. همچنین شامل چهار مشارکت دعوت شده و پنج نمایش ابزار است. این مقالات به جنبههای فعلی موضوع داغ سیستمهای تعبیهشده، بهویژه منطق زمانی، مهندسی نیازمندیها، تکنیکهای تحلیل، تأیید، بررسی مدل، و برنامهها میپردازند.
This book constitutes the refereed proceedings of the 5th International Symposium on Formal Techniques in Real-Time and Fault-Tolerant Systems, FTRTFT'98, held in Lyngby, Denmark, in September 1998.
The 22 revised full papers presented were carefully selected and reviewed for inclusion in the book. Also included are four invited contributions and five tool demonstrations. The papers address the current aspects of the hot topic of embedded systems, in particular temporal logic, requirements engineering, analysis techniques, verification, model checking, and applications.