دانلود کتاب Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
کتاب مبانی طراحی مدار یکپارچه آگاه از مهاجرت نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب مبانی طراحی مدار یکپارچه آگاه از مهاجرت بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
نام کتاب : Fundamentals of Electromigration-Aware Integrated Circuit Design
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : مبانی طراحی مدار یکپارچه آگاه از مهاجرت
سری :
نویسندگان : Jens Lienig, Matthias Thiele (auth.)
ناشر : Springer International Publishing
سال نشر : 2018
تعداد صفحات : 171
ISBN (شابک) : 9783319735573 , 9783319735580
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 6 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
این کتاب یک مرور کلی از مهاجرت الکتریکی و تأثیرات آن بر قابلیت اطمینان مدارهای الکترونیکی ارائه می دهد. این فرآیند فیزیکی مهاجرت الکتریکی را معرفی می کند، که به خواننده درک و دانش لازم برای اتخاذ اقدامات مقابله ای مناسب را می دهد. مجموعه ای جامع از گزینه ها برای اصلاح روش طراحی IC حاضر برای جلوگیری از مهاجرت الکتریکی ارائه شده است. در نهایت، نویسندگان نشان می‌دهند که چگونه می‌توان از اثرات خاص در فناوری‌های حال و آینده برای کاهش تأثیر منفی مهاجرت الکتریکی بر قابلیت اطمینان مدار استفاده کرد.
فهرست مطالب :
Front Matter ....Pages i-xiii
Introduction (Jens Lienig, Matthias Thiele)....Pages 1-12
Fundamentals of Electromigration (Jens Lienig, Matthias Thiele)....Pages 13-60
Integrated Circuit Design and Electromigration (Jens Lienig, Matthias Thiele)....Pages 61-98
Mitigating Electromigration in Physical Design (Jens Lienig, Matthias Thiele)....Pages 99-148
Summary and Outlook (Jens Lienig, Matthias Thiele)....Pages 149-156
Back Matter ....Pages 157-159
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
The book provides a comprehensive overview of electromigration and its effects on the reliability of electronic circuits. It introduces the physical process of electromigration, which gives the reader the requisite understanding and knowledge for adopting appropriate counter measures. A comprehensive set of options is presented for modifying the present IC design methodology to prevent electromigration. Finally, the authors show how specific effects can be exploited in present and future technologies to reduce electromigration’s negative impact on circuit reliability.
پست ها تصادفی