Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

دانلود کتاب Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

57000 تومان موجود

کتاب مبانی تحلیل فیلم در مقیاس نانو نسخه زبان اصلی

دانلود کتاب مبانی تحلیل فیلم در مقیاس نانو بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید


این کتاب نسخه اصلی می باشد و به زبان فارسی نیست.


امتیاز شما به این کتاب (حداقل 1 و حداکثر 5):

امتیاز کاربران به این کتاب:        تعداد رای دهنده ها: 5


توضیحاتی در مورد کتاب Fundamentals of Nanoscale Film Analysis

نام کتاب : Fundamentals of Nanoscale Film Analysis
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : مبانی تحلیل فیلم در مقیاس نانو
سری :
نویسندگان : , ,
ناشر : Springer US
سال نشر : 2007
تعداد صفحات : 348
ISBN (شابک) : 9780387292601 , 9780387292618
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 5 مگابایت



بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.

توضیحاتی در مورد کتاب :




علم و فناوری مدرن، از علم مواد گرفته تا توسعه مدارهای مجتمع، به سمت مقیاس نانو هدایت شده است. از لایه های نازک گرفته تا ترانزیستورهای اثر میدانی، تاکید بر کاهش ابعاد از میکرو به مقیاس نانو است. مبانی تجزیه و تحلیل فیلم در مقیاس نانو بر تجزیه و تحلیل ساختار و ترکیب سطح و عمق چند ده تا صد نانومتری بیرونی متمرکز است. این روش تکنیک‌های مشخص‌سازی را برای تعیین کمیت ساختار، ترکیب و توزیع عمق مواد با استفاده از ذرات و فوتون‌های پرانرژی توصیف می‌کند.

این کتاب اصول توصیف مواد را از دیدگاه فوتون‌ها یا ذراتی که ساختارهای نانومقیاس را بررسی می‌کنند، شرح می‌دهد. این واکنش های القایی منجر به گسیل انواع ذرات و فوتون های شناسایی شده می شود. این انرژی و شدت پرتوهای شناسایی شده است که اساس خصوصیات مواد است. مجموعه ای از تکنیک های تجربی مورد استفاده در تجزیه و تحلیل مواد در مقیاس نانو، طیف گسترده ای از ذرات فرودی و برهمکنش های پرتو شناسایی شده را پوشش می دهد.

برهم کنش های مهمی مانند برخورد اتمی، پراکندگی عقب رادرفورد، کانال یابی یونی، پراش، جذب فوتون، تابش را شامل می شود. و انتقال های غیر تشعشعی و واکنش های هسته ای. انواع تکنیک های میکروسکوپ کاوشگر تحلیلی و روبشی به تفصیل ارائه شده است.


فهرست مطالب :


Front Matter....Pages i-xiv
An Overview: Concepts, Units, and the Bohr Atom....Pages 1-11
Atomic Collisions and Backscattering Spectrometry....Pages 12-33
Energy Loss of Light Ions and Backscattering Depth Profiles....Pages 34-58
Sputter Depth Profiles and Secondary Ion Mass Spectroscopy....Pages 59-83
Ion Channeling....Pages 84-104
Electron-Electron Interactions and the Depth Sensitivity of Electron Spectroscopies....Pages 105-128
X-ray Diffraction....Pages 129-151
Electron Diffraction....Pages 152-173
Photon Absorption in Solids and EXAFS....Pages 174-198
X-ray Photoelectron Spectroscopy....Pages 199-213
Radiative Transitions and the Electron Microprobe....Pages 214-233
Nonradiative Transitions and Auger Electron Spectroscopy....Pages 234-254
Nuclear Techniques: Activation Analysis and Prompt Radiation Analysis....Pages 255-276
Scanning Probe Microscopy....Pages 277-290
Back Matter....Pages 291-338

توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :


Modern science and technology, from materials science to integrated circuit development, is directed toward the nanoscale. From thin films to field effect transistors, the emphasis is on reducing dimensions from the micro to the nanoscale. Fundamentals of Nanoscale Film Analysis concentrates on analysis of the structure and composition of the surface and the outer few tens to hundred nanometers in depth. It describes characterization techniques to quantify the structure, composition and depth distribution of materials with the use of energetic particles and photons.

The book describes the fundamentals of materials characterization from the standpoint of the incident photons or particles which interrogate nanoscale structures. These induced reactions lead to the emission of a variety of detected of particles and photons. It is the energy and intensity of the detected beams that is the basis of the characterization of the materials. The array of experimental techniques used in nanoscale materials analysis covers a wide range of incident particle and detected beam interactions.

Included are such important interactions as atomic collisions, Rutherford backscattering, ion channeling, diffraction, photon absorption, radiative and nonradiative transitions, and nuclear reactions. A variety of analytical and scanning probe microscopy techniques are presented in detail.




پست ها تصادفی