Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics)

دانلود کتاب Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics)

دسته: الکترونیک

42000 تومان موجود

کتاب دریافت عیوب در نیمه هادی ها (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته) نسخه زبان اصلی

دانلود کتاب دریافت عیوب در نیمه هادی ها (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته) بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید


این کتاب نسخه اصلی می باشد و به زبان فارسی نیست.


امتیاز شما به این کتاب (حداقل 1 و حداکثر 5):

امتیاز کاربران به این کتاب:        تعداد رای دهنده ها: 3


توضیحاتی در مورد کتاب Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics)

نام کتاب : Gettering Defects in Semiconductors (Springer Series in Advanced Microelectronics)
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : دریافت عیوب در نیمه هادی ها (سری اسپرینگر در میکروالکترونیک پیشرفته)
سری :
نویسندگان : ,
ناشر : Springer
سال نشر : 2005
تعداد صفحات : 400
ISBN (شابک) : 9783540262442 , 354026244X
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 4 مگابایت



بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.

توضیحاتی در مورد کتاب :


گرفتن نقص در نیمه هادی ها سه هدف اساسی را برآورده می کند: سیستماتیک کردن تجربه و تحقیق در بهره‌برداری از تکنیک‌های مختلف دریافت در میکروالکترونیک و نانوالکترونیک؛ ? شناسایی جهات جدید در تحقیق، به ویژه برای ارتقای دیدگاه متخصصان و محققان و متخصصان جوان؛ ? برای پر کردن شکاف در ادبیات معاصر در مورد نظریه نیمه هادی-ماده اساسی. نویسندگان نه تنها به تکنیک‌های تثبیت‌شده دریافت می‌پردازند، بلکه روندهای معاصر در فناوری‌های دریافت را از دیدگاه بین‌المللی نیز توصیف می‌کنند. انواع و خواص عیوب ساختاری در نیمه هادی ها، ایجاد و مکانیسم های تبدیل آنها در طول ساخت شرح داده شده است. تأکید اولیه بر طبقه‌بندی و توصیف تکنیک‌های دریافت خاص است که ویژگی آن‌ها هم از موقعیت آن‌ها در یک فرآیند کلی تکنولوژیکی و هم از رژیم‌های کاربردشان ناشی می‌شود. این کتاب به مهندسان و دانشمندان مواد علاقه مند به نظریه مواد نیمه هادی و همچنین دانشجویان کارشناسی و کارشناسی ارشد در میکروالکترونیک حالت جامد و نانوالکترونیک می پردازد. فهرست جامعی از مراجع جهت مطالعه بیشتر را در اختیار خوانندگان قرار می دهد.

فهرست مطالب :


Introduction....Pages 1-4
Basic technological processes and defect formation in the components of device structures....Pages 5-78
Effects of defects on electrophysical and functional parameters in semiconducting structures and devices....Pages 79-125
Techniques for high-temperature gettering....Pages 127-196
Physical foundations for low-temperature gettering techniques....Pages 197-340

توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :


Gettering Defects in Semiconductors fulfills three basic purposes:? to systematize the experience and research in exploiting various gettering techniques in microelectronics and nanoelectronics; ? to identify new directions in research, particularly to enhance the perspective of professionals and young researchers and specialists; ? to fill a gap in the contemporary literature on the underlying semiconductor-material theory. The authors address not only well-established gettering techniques but also describe contemporary trends in gettering technologies from an international perspective. The types and properties of structural defects in semiconductors, their generating and their transforming mechanisms during fabrication are described. The primary emphasis is placed on classifying and describing specific gettering techniques, their specificity arising from both their position in a general technological process and the regimes of their application. This book addresses both engineers and material scientists interested in semiconducting materials theory and also undergraduate and graduate students in solid?state microelectronics and nanoelectronics. A comprehensive list of references provides readers with direction for further reading.



پست ها تصادفی