دانلود کتاب قابلیت اطمینان Hot-Carrier مدارهای MOS VLSI (227 سری بین المللی Springer در مهندسی و علوم کامپیوتر) بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Hot-Carrier Reliability of MOS VLSI Circuits (The Springer International Series in Engineering and Computer Science Book 227)
ویرایش : 1993
عنوان ترجمه شده به فارسی : قابلیت اطمینان Hot-Carrier مدارهای MOS VLSI (کتاب 227 سری بین المللی Springer در مهندسی و علوم کامپیوتر)
سری :
نویسندگان : Yusuf Leblebici
ناشر :
سال نشر :
تعداد صفحات : 0
ISBN (شابک) : 9781461532507 , 1461532507
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : epub درصورت درخواست کاربر به PDF تبدیل می شود
حجم کتاب : 8 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.