دانلود کتاب مدل سازی اطلاعات برای اندازه گیری ابعادی متقابل بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : مدل سازی اطلاعات برای اندازه گیری ابعادی متقابل
سری :
نویسندگان : Yaoyao (Fiona) Zhao, Robert Brown, Thomas R. Kramer, Xun Xu (auth.)
ناشر : Springer-Verlag London
سال نشر : 2011
تعداد صفحات : 388
ISBN (شابک) : 144712166X , 9781447121664
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 6 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
مترولوژی ابعادی بخشی ضروری از فناوریهای تولید مدرن است، اما نظریههای اساسی و روشهای اندازهگیری دیگر برای سیستمهای دیجیتالی امروزی کافی نیستند. تبادل اطلاعات بین اجزای نرمافزار یک سیستم اندازهشناسی بعدی نه تنها هزینه زیادی دارد، بلکه باعث میشود کل سیستم یکپارچگی دادهها را از دست بدهد.
مدلسازی اطلاعات برای اندازهشناسی ابعادی متقابل
i> مسائل قابلیت همکاری را در سیستمهای اندازهشناسی ابعادی تجزیه و تحلیل میکند و تکنیکهای مدلسازی اطلاعات را توصیف میکند. این مقاله رویکردها و مدلهای داده جدید را برای حل مشکلات قابلیت همکاری، و همچنین معرفی فعالیتهای فرآیندی، مدلهای دادههای موجود و در حال ظهور، و فناوریهای کلیدی سیستمهای اندازهشناسی بعدی را مورد بحث قرار میدهد.
این کتاب که برای محققان صنعت و دانشگاه و همچنین دانشجویان پیشرفته کارشناسی و کارشناسی ارشد نوشته شده است، هم مروری کلی و هم درک عمیقی از سیستمهای اندازهشناسی ابعادی کامل میدهد. با پوشش جزئیات نظریه و محتوای اصلی، تکنیکها و روشهای مورد استفاده در سیستمهای اندازهشناسی ابعادی، مدلسازی اطلاعات برای اندازهشناسی ابعادی متقابل خوانندگان را قادر میسازد تا مسائل اندازهگیری ابعادی دنیای واقعی را در روشهای اندازهشناسی بعدی مدرن حل کنند.
Dimensional metrology is an essential part of modern manufacturing technologies, but the basic theories and measurement methods are no longer sufficient for today's digitized systems. The information exchange between the software components of a dimensional metrology system not only costs a great deal of money, but also causes the entire system to lose data integrity.
Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology analyzes interoperability issues in dimensional metrology systems and describes information modeling techniques. It discusses new approaches and data models for solving interoperability problems, as well as introducing process activities, existing and emerging data models, and the key technologies of dimensional metrology systems.
Written for researchers in industry and academia, as well as advanced undergraduate and postgraduate students, this book gives both an overview and an in-depth understanding of complete dimensional metrology systems. By covering in detail the theory and main content, techniques, and methods used in dimensional metrology systems, Information Modeling for Interoperable Dimensional Metrology enables readers to solve real-world dimensional measurement problems in modern dimensional metrology practices.