دانلود کتاب Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons
کتاب بیضی سنجی مادون قرمز در ساختارهای لایه نیمه هادی: فونون ها، پلاسمون ها و پلاریتون ها نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب بیضی سنجی مادون قرمز در ساختارهای لایه نیمه هادی: فونون ها، پلاسمون ها و پلاریتون ها بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons
نام کتاب : Infrared Ellipsometry on Semiconductor Layer Structures: Phonons, Plasmons, and Polaritons
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : بیضی سنجی مادون قرمز در ساختارهای لایه نیمه هادی: فونون ها، پلاسمون ها و پلاریتون ها
سری : Springer Tracts in Modern Physics 209
نویسندگان : Mathias Schubert (auth.)
ناشر : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر : 2005
تعداد صفحات : 181
ISBN (شابک) : 9783540232490 , 9783540447016
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 10 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
مطالعه ساختارهای لایه نیمه هادی با استفاده از بیضی سنجی مادون قرمز یک زمینه به سرعت در حال رشد در طیف سنجی نوری است. این کتاب بینش های اساسی در مورد مفاهیم فونون ها، پلاسمون ها و پلاریتون ها و عملکرد دی الکتریک فروسرخ نیمه هادی ها در ساختارهای لایه ای ارائه می دهد. این توضیح می دهد که چگونه کرنش، ترکیب، و وضعیت نظم اتمی در ساختارهای لایه پیچیده آلیاژهای چندگانه را می توان از یک بررسی بیضی سنجی مادون قرمز تعیین کرد. تاکید ویژه ای به ویژگی های حامل بار آزاد و اثرات مغناطیسی نوری داده شده است.
گستره وسیعی از نمونه‌های تجربی توصیف شده‌اند، از جمله آلیاژهای چندگانه مواد نیمه‌رسانای ساختار روی وورتزیت، و کاربردهای آینده مانند ساختارهای لایه‌ای آلی و سیستم‌های الکترونی بسیار همبسته پیشنهاد شده‌اند.
فهرست مطالب :
Introduction....Pages 1-6
Ellipsometry....Pages 7-29
Infrared Model Dielectric Functions....Pages 31-43
Polaritons in Semiconductor Layer Structures....Pages 45-65
Anisotropic Substrates....Pages 67-79
Zincblende-Structure Materials (III–V)....Pages 81-107
Wurtzite-Structure Materials (Group-III Nitrides, ZnO)....Pages 109-145
Magneto-Optic Ellipsometry....Pages 147-164
4×4 Transfer Matrix T p for Isotropic Films....Pages 165-167
4 × 4 Transfer Matrix T p for Dielectric Homogeneous Films....Pages 169-170
4 × 4 Transfer Matrix T p for Magneto-optic Films....Pages 171-172
4 × 4 Transfer Matrix T p for Dielectric Helical Films....Pages 173-179
TM Waves at the Interface Between Two Half-Infinite Media....Pages 181-183
TM Waves at Two Stratified Interfaces....Pages 185-190
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
The study of semiconductor-layer structures using infrared ellipsometry is a rapidly growing field within optical spectroscopy. This book offers basic insights into the concepts of phonons, plasmons and polaritons, and the infrared dielectric function of semiconductors in layered structures. It describes how strain, composition, and the state of the atomic order within complex layer structures of multinary alloys can be determined from an infrared ellipsometry examination. Special emphasis is given to free-charge-carrier properties, and magneto-optical effects.
A broad range of experimental examples are described, including multinary alloys of zincblende and wurtzite structure semiconductor materials, and future applications such as organic layer structures and highly correlated electron systems are proposed.
پست ها تصادفی