دانلود کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
کتاب ترموگرافی قفل: اصول و کاربرد برای ارزیابی وسایل و مواد الکترونیکی نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب ترموگرافی قفل: اصول و کاربرد برای ارزیابی وسایل و مواد الکترونیکی بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
نام کتاب : Lock-in Thermography: Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
ویرایش : 2
عنوان ترجمه شده به فارسی : ترموگرافی قفل: اصول و کاربرد برای ارزیابی وسایل و مواد الکترونیکی
سری : Springer Series in Advanced Microelectronics 10
نویسندگان : Otwin Breitenstein, Wilhelm Warta, Martin Langenkamp (auth.)
ناشر : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر : 2010
تعداد صفحات : 257
ISBN (شابک) : 9783642024160 , 3642024165
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 6 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
این کتاب به ترموگرافی قفل شده (LIT) به عنوان یک نوع دینامیکی فعال خاص از ترموگرافی معروف IR می پردازد. نسبت سیگنال به نویز بسیار بهبود یافته (تا 1000x) و وضوح جانبی بسیار بهتر در مقایسه با ترموگرافی حالت پایدار را امکان پذیر می کند. این کتاب بر کاربردهای دستگاه‌ها و مواد الکترونیکی متمرکز است، اما فصل‌های اصلی برای ارزیابی غیر مخرب نیز مفید هستند. رویکردهای تجربی مختلف به LIT با تاکید ویژه بر سیستم‌های مختلف تجاری LIT موجود بررسی می‌شوند. برنامه های کاربردی جدید LIT، مانند LIT روشن که برای سلول های خورشیدی اعمال می شود، و نقشه برداری طول عمر LIT غیر حرارتی، بررسی می شوند. مطالعات موردی تحقیق LIT معمولی معرفی شده است.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages i-x
Introduction....Pages 1-6
Physical and Technical Basics....Pages 7-59
Experimental Technique....Pages 61-99
Theory....Pages 101-147
Measurement Strategies....Pages 149-175
Typical Applications....Pages 177-228
Summary and Outlook....Pages 229-233
Back Matter....Pages 235-255
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
This book deals with lock-in thermography (LIT) as a special active dynamic variant of the well-known IR thermography. It enables a much improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. The book concentrates on applications to electronic devices and materials, but the basic chapters are useful as well for non-destructive evaluation. Various experimental approaches to LIT are reviewed with special emphasis to different available commercial LIT systems. New LIT applications are reviewed, like Illuminated LIT applied to solar cells , and non-thermal LIT lifetime mapping. Typical LIT investigation case studies are introduced.
پست ها تصادفی