توضیحاتی در مورد کتاب Materials Analysis by Ion Channeling. Submicron crystallography
نام کتاب : Materials Analysis by Ion Channeling. Submicron crystallography
عنوان ترجمه شده به فارسی : تجزیه و تحلیل مواد توسط کانال یونی. کریستالوگرافی زیر میکرون
سری :
نویسندگان : Feldman L.C., Mayer J.W., Picraux S.T.
ناشر : Academic Press
سال نشر : 1982
تعداد صفحات : 305
ISBN (شابک) : 0122526805
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : djvu درصورت درخواست کاربر به PDF تبدیل می شود
حجم کتاب : 3 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
در میان روش های مختلف برای مطالعه ساختار سطحی، در سال های اخیر روش های مبتنی بر مطالعه ویژگی های پراکندگی یون با موفقیت مورد استفاده قرار گرفته است. مونوگرافی توسط L. Feldman، J. Mayer، T. Picraux، "Ion Channeling in the Study of Materials" به طیف بسیار گسترده ای از مسائل در مطالعه عیوب ساختاری در سطح و حجم تک بلورها اختصاص دارد. L. Feldman یک متخصص شناخته شده در زمینه فیزیک سطح است و در استفاده از کانال یونی برای مطالعه ساختار سطوح و لایه های نازک سطحی پیشگام است. \nکتاب شامل 9 فصل و کتابشناسی گسترده با بیش از 800 عنوان است. چهار فصل اول به بررسی مبانی فیزیکی استفاده از کانالکشی یونی برای مطالعه عیوب در ساختار بلوری میپردازد، برهمکنش پرتوهای یونی با سطح بلورها، فیزیک پدیده کانالسازی و پراکندگی یونها توسط نقصها را در نظر میگیرد. با این حال، بیشترین علاقه در فصلهای بعدی است که در آن با استفاده از مثالهای مختلف، امکانات روش پرتوهای یونی و کانالگذاری آنها برای مطالعه ساختار سطح، لایههای کاشتهشده و اپیتاکسیال و توزیع عیوب در حجم وجود دارد. کریستال ها در نظر گرفته می شوند.
فهرست مطالب :
Титульный лист......Page 2
General References......Page 4
1. Interaction of Ion Beams with Surfaces......Page 23
2. Channeling within the Crystal......Page 48
3. Particle Distributions within the Сhаnnеl......Page 72
4. Dechanneling bу Defects......Page 99
5. Defect Depth Distributions......Page 128
6. Surfaces......Page 147
7. Surface Layers and Interfaces......Page 162
8. Epitaxial Layers......Page 182
9. Impurity - Defect Interactions......Page 204
Арреndix А. Atomic Scattering Concepts......Page 223
Appendix В. Lecture Notes оn Channeling and the Continuum Potential......Page 231
Bibliography......Page 244
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
Среди разнообразных методов исследования структуры поверхности в последние годы \nуспешно применяются методы, основанные на изучении характеристик рассеяния ионов. \nМонография L.Feldman, J. Mayer, T. Picraux , «Каналирование ионов в исследовании материалов» посвящена очень широкому кругу вопросов по исследованию структурных дефектов поверхности и объема монокристаллов. L. Feldman - широко известный специалист в области физики поверхности и является родоначальником использования явления каналирования ионов для изучения структуры поверхности и тонких поверхностных слоев. \nКнига состоит из 9 глав и обширной библиографии, содержащей более 800 наименований. В первых четырех главах рассмотрены физические основы применения каналирования ионов для изучения дефектов кристаллической структуры, рассмотрено взаимодействие ионных пучков с поверхностью кристаллов, физика явления каналирования, рассеяние ионов на дефектах. Однако наибольший интерес представляют последующие главы, в которых на разнообразных примерах рассмотрены возможности метода ионных пучков и их каналирования для изучения структуры поверхности, имплантированных и эпитаксиальных слоев, распределения дефектов в объеме кристаллов.