دانلود کتاب Modeling nanoscale imaging in electron microscopy
کتاب مدل سازی تصویربرداری در مقیاس نانو در میکروسکوپ الکترونی نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب مدل سازی تصویربرداری در مقیاس نانو در میکروسکوپ الکترونی بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Modeling nanoscale imaging in electron microscopy
نام کتاب : Modeling nanoscale imaging in electron microscopy
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : مدل سازی تصویربرداری در مقیاس نانو در میکروسکوپ الکترونی
سری : Nanostructure science and technology
نویسندگان : Michael Dickson (auth.), Thomas Vogt, Wolfgang Dahmen, Peter Binev (eds.)
ناشر : Springer-Verlag New York
سال نشر : 2012
تعداد صفحات : 190
ISBN (شابک) : 9781461421917 , 1461421918
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 6 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
مدل‌سازی تصویربرداری در مقیاس نانو در میکروسکوپ الکترونی پیشرفت‌های اخیر را ارائه می‌کند که با استفاده از روش‌های ریاضی برای حل مشکلات در میکروسکوپ انجام شده است. با پیشرفت در نرم‌افزار انحراف مبتنی بر سخت‌افزار که قابلیت‌های تصویربرداری در مقیاس نانو میکروسکوپ‌های الکترونی عبوری روبشی (STEM) را به طور قابل‌توجهی گسترش می‌دهد، این مدل‌های ریاضی می‌توانند جایگزین برخی از روش‌های کار فشرده مورد استفاده برای کار و نگهداری STEM شوند. این کتاب، که اولین کتاب در زمینه خود از سال 1998 است، همچنین مفاهیم مرتبطی مانند تکنیک‌های وضوح فوق‌العاده، روش‌های حذف نویز ویژه، کاربرد نظریه یادگیری ریاضی/آماری، و سنجش فشرده را پوشش می‌دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing.
پست ها تصادفی