دانلود کتاب Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
کتاب تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
نام کتاب : Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
عنوان ترجمه شده به فارسی : تست های حافظه چند مرحله ای برای خطاهای حساس به الگو
سری :
نویسندگان : Mrozek, Ireneusz
ناشر : Springer International Publishing
سال نشر : 2019
تعداد صفحات : 142
ISBN (شابک) : 9783319912035 , 3319912046
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 3 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
پست ها تصادفی