دانلود کتاب Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach
کتاب خصوصیات نانومقیاس مواد فروالکتریک: رویکرد میکروسکوپی پروب روبشی نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب خصوصیات نانومقیاس مواد فروالکتریک: رویکرد میکروسکوپی پروب روبشی بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach
نام کتاب : Nanoscale Characterisation of Ferroelectric Materials: Scanning Probe Microscopy Approach
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : خصوصیات نانومقیاس مواد فروالکتریک: رویکرد میکروسکوپی پروب روبشی
سری : NanoScience and Technology
نویسندگان : S. V. Kalinin, D. A. Bonnell (auth.), Dr. Marin Alexe, Dr. Alexei Gruverman (eds.)
ناشر : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر : 2004
تعداد صفحات : 289
ISBN (شابک) : 9783642058448 , 9783662089019
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 11 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
این کتاب پیشرفت‌های اخیر را در زمینه شناسایی مواد فروالکتریک در مقیاس نانو با استفاده از میکروسکوپ پروب روبشی (SPM) ارائه می‌کند. به مکانیسم‌های تصویربرداری مختلف از حوزه‌های فروالکتریک در SPM، تجزیه و تحلیل کمی سیگنال‌های پاسخ پیزو و همچنین فیزیک پایه فروالکتریک در سطح نانو، مانند سوئیچینگ در مقیاس نانو، اثرات مقیاس‌پذیری، و رفتار انتقال می‌پردازد. این بررسی پیشرفته تئوری و آزمایشات روی پدیده های قطبش در مقیاس نانو مرجع مفیدی برای خوانندگان پیشرفته و همچنین برای تازه واردان و دانشجویان فارغ التحصیل علاقه مند به تکنیک های SPM خواهد بود. افراد غیرمتخصص اطلاعات ارزشمندی را در مورد رویکردهای مختلف برای تعیین مشخصات الکتریکی توسط SPM به دست خواهند آورد، در حالی که به محققان در زمینه فروالکتریک جزئیات اندازه گیری فروالکتریک مبتنی بر SPM ارائه خواهد شد.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages I-XIII
Electric Scanning Probe Imaging and Modification of Ferroelectric Surfaces....Pages 1-43
Challenges in the Analysis of the Local Piezoelectric Response....Pages 45-85
Electrical Characterization of Nanoscale Ferroelectric Structures....Pages 87-114
Nanoscale Optical Probes of Ferroelectric Materials....Pages 115-142
Scanning Nonlinear Dielectric Microscopy for Investigation of Ferroelectric Polarization....Pages 143-162
Nanoscale Piezoelectric Phenomena in Epitaxial PZT Thin Films....Pages 163-191
Scanning Probe Microscopy of Ferroelectric Domains near Phase Transitions....Pages 193-220
Nanodomain Engineering in Ferroelectric Crystals Using High Voltage Atomic Force Microscopy....Pages 221-265
Nanoinspection of Dielectric and Polarization Properties at Inner and Outer Interfaces in PZT Thin Films....Pages 267-277
Back Matter....Pages 279-282
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
This book presents recent advances in the field of nanoscale characterization of ferroelectric materials using scanning probe microscopy (SPM). It addresses various imaging mechanisms of ferroelectric domains in SPM, quantitative analysis of the piezoresponse signals as well as basic physics of ferroelectrics at the nanoscale level, such as nanoscale switching, scaling effects, and transport behavior. This state-of-the-art review of theory and experiments on nanoscale polarization phenomena will be a useful reference for advanced readers as well for newcomers and graduate students interested in the SPM techniques. The non-specialists will obtain valuable information about different approaches to electrical characterization by SPM, while researchers in the ferroelectric field will be provided with details of SPM-based measurements of ferroelectrics.
پست ها تصادفی