دانلود کتاب Optical Scattering: Measurements and Analysis, Third Edition
کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل، ویرایش سوم نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل، ویرایش سوم بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Optical Scattering: Measurements and Analysis, Third Edition
نام کتاب : Optical Scattering: Measurements and Analysis, Third Edition
ویرایش : Third
عنوان ترجمه شده به فارسی : پراکندگی نوری: اندازه گیری و تجزیه و تحلیل، ویرایش سوم
سری : SPIE Press Monograph PM224
نویسندگان : John C. Stover
ناشر : SPIE Press
سال نشر : 2012
تعداد صفحات : 334
ISBN (شابک) : 0819492515 , 9780819492517
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 8 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
چاپ اول این کتاب بر ارتباط پراکندگی از سطوح صاف نوری به ریز زبری روی آن سطوح متمرکز بود. دکتر استوور پس از گذراندن شش سال در صنعت نیمه هادی، نسخه سوم را به روز کرده و گسترش داده است. مدل‌های پراکنده برای حفره‌ها و ذرات و همچنین استفاده از اسکنرهای ویفر برای مکان‌یابی و اندازه‌گذاری ویژگی‌های سطح جدا شده به‌تازگی ارائه شده است. بخش‌های جدید کسب‌وکار اسکنر ویفر چند میلیون دلاری را پوشش می‌دهد و ثابت می‌کند که ریزخوشی نویز است، نه سیگنال، در این سیستم‌ها. اندازه‌گیری‌های پراکندگی، که اکنون به طور معمول برای تعیین اینکه آیا ویژگی‌های سطح کوچک حفره‌ها یا ذرات هستند و فناوری جدیدی الهام‌بخش که اطلاعاتی در مورد مواد ذرات ارائه می‌دهد، استفاده می‌شود، نیز مورد بحث قرار می‌گیرد. این قابلیت‌های جدید اکنون توسط یک سری استانداردهای بین‌المللی پشتیبانی می‌شوند و فصل جدید آن اسناد را بررسی می‌کند.
اطلاعات جدیدی در مورد پراکندگی از سطوح ناهموار نوری نیز اضافه شده است. هنگامی که از حد بحرانی فراتر رفت، نمی توان از پراکندگی برای تعیین آمار زبری سطح استفاده کرد، اما همچنان می توان اطلاعات قابل توجهی به دست آورد - به ویژه هنگامی که اندازه گیری ها روی محصولات تولید انبوه انجام می شود. تغییرات در اندازه‌گیری پوشش داده می‌شوند و خواننده نمونه‌هایی از اندازه‌گیری‌های پراکندگی را که با استفاده از دوربین برای کسری از هزینه و در کسری از زمانی که قبلاً ممکن بود، پیدا می‌کند. ایده ارتباط پراکندگی به ظاهر سطح نیز مورد بحث قرار گرفته است و ظاهر فصل کوتاه خود را دارد. بالاخره زیبایی در چشم بیننده است و آنچه می بینیم نور پراکنده است.
فهرست مطالب :
Content: Preface to the first edition --
Preface to the second edition --
Acknowledgments for the second edition --
Preface to the third edition --
Acknowledgments for the third edition --
List of acronyms --
Chapter 1. Quantifying light scatter --
Chapter 2. Quantifying surface roughness --
Chapter 3. Scatter calculations and diffraction theory --
Chapter 4. Using Rayleigh-Rice to calculate smooth-surface statistics from the BRDF --
Chapter 5. Polarization of scattered light --
Chapter 6. Scattering models for discrete surface features --
Chapter 7. Instrumentation and measurement issues --
Chapter 8. Predicting scatter from roughness --
Chapter 9. Detection of discrete defects --
Chapter 10. Appearance and scattered light --
Chapter 11. Industrial applications --
Chapter 12. Published scatter standards --
Chapter 13. Scatter specifications --
Appendix A. Review of electromagnetic wave propagation --
Appendix B. Kirchhoff diffraction from sinusoidal gratings --
Appendix C. BSDF data --
Appendix D. Units --
References --
Works consulted.
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
The first edition of this book concentrated on relating scatter from optically smooth surfaces to the microroughness on those surfaces. After spending six years in the semiconductor industry, Dr. Stover has updated and expanded the third edition. Newly included are scatter models for pits and particles as well as the use of wafer scanners to locate and size isolated surface features. New sections cover the multimillion-dollar wafer scanner business, establishing that microroughness is the noise, not the signal, in these systems. Scatter measurements, now routinely used to determine whether small-surface features are pits or particles and inspiring new technology that provides information on particle material, are also discussed. These new capabilities are now supported by a series of international standards, and a new chapter reviews those documents.
New information on scatter from optically rough surfaces has also been added. Once the critical limit is exceeded, scatter cannot be used to determine surface-roughness statistics, but considerable information can still be obtained - especially when measurements are made on mass-produced products. Changes in measurement are covered, and the reader will find examples of scatter measurements made using a camera for a fraction of the cost and in a fraction of the time previously possible. The idea of relating scatter to surface appearance is also discussed, and appearance has its own short chapter. After all, beauty is in the eye of the beholder, and what we see is scattered light.