دانلود کتاب Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
کتاب عیوب نقطه ای در نیمه هادی ها و عایق ها: تعیین ساختار اتمی و الکترونیکی از برهمکنش های فوق ریز پارامغناطیسی نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب عیوب نقطه ای در نیمه هادی ها و عایق ها: تعیین ساختار اتمی و الکترونیکی از برهمکنش های فوق ریز پارامغناطیسی بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
نام کتاب : Point Defects in Semiconductors and Insulators: Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : عیوب نقطه ای در نیمه هادی ها و عایق ها: تعیین ساختار اتمی و الکترونیکی از برهمکنش های فوق ریز پارامغناطیسی
سری : Springer Series in Materials Science 51
نویسندگان : Professor Dr. Johann-Martin Spaeth, Professor Dr. Harald Overhof (auth.)
ناشر : Springer-Verlag Berlin Heidelberg
سال نشر : 2003
تعداد صفحات : 496
ISBN (شابک) : 9783642627224 , 9783642556159
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 17 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
این کتاب اصول و تکنیک‌های طیف‌سنجی رزونانس پارامغناطیس الکترونی مدرن (EPR) را معرفی می‌کند که برای کاربردهای مورد استفاده برای تعیین ساختارهای نقص میکروسکوپی ضروری است. بسیاری از روش های تشدید مغناطیسی مختلف برای بررسی خواص میکروسکوپی و الکترونیکی جامدات و کشف همبستگی بین این ویژگی ها مورد نیاز است. علاوه بر EPR، چنین روش‌هایی شامل تشدید دوگانه هسته‌ای الکترون (ENDOR)، EPR شناسایی شده به صورت الکترونیکی و نوری (که دومی به نام ODENDOR شناخته می‌شود) و ENDOR شناسایی شده به‌صورت الکترونیکی و نوری است. این کتاب به طور جامع جنبه‌های تجربی، تکنولوژیکی و نظری این تکنیک‌ها را از نقطه‌نظر عملی با مثال‌های گویا بسیاری که از نیمه‌رساناها و عایق‌ها گرفته شده‌اند، مورد بحث قرار می‌دهد. افراد غیر متخصص از پتانسیل روش های مختلف مطلع می شوند. یک محقق کمک عملی در کاربرد دستگاه های تجاری و همچنین راهنمایی های مفید از نظریه ی ابتدایی برای کار استخراج مدل های ساختار از داده های تجربی پیدا می کند.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages I-XI
Introduction....Pages 1-10
Fundamentals of Electron Paramagnetic Resonance....Pages 11-33
Electron Paramagnetic Resonance Spectra....Pages 35-73
Optical Detection of Electron Paramagnetic Resonance....Pages 75-162
Electron Nuclear Double Resonance....Pages 163-195
Analysis of ENDOR Spectra....Pages 197-264
Electrical Detection of Electron Paramagnetic Resonance....Pages 265-308
Theoretical ab initio Calculations of Hyperfine Interactions....Pages 309-413
Experimental Aspects of Optically Detected EPR and ENDOR....Pages 415-442
Back Matter....Pages 443-492
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
This book introduces the principles and techniques of modern electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy that are essential for applications used to determine microscopic defect structures. Many different magnetic resonance methods are required for investigating the microscopic and electronic properties of solids and uncovering correlations between those properties. In addition to EPR such methods include electron nuclear double resonance (ENDOR), electronically and optically detected EPR (the latter is known as ODENDOR), and electronically and optically detected ENDOR. This book comprehensively discusses experimental, technological, and theoretical aspects of these techniques from a practical point of view with many illustrative examples taken from semiconductors and insulators. The non-specialist is informed about the potential of the different methods. A researcher finds practical help in the application of commercial apparatus as well as useful guidance from ab initio theory for the task of deriving structure models from experimental data.
پست ها تصادفی