دانلود کتاب Quantitative X-Ray Diffractometry
کتاب پراش سنجی کمی اشعه ایکس نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب پراش سنجی کمی اشعه ایکس بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Quantitative X-Ray Diffractometry
نام کتاب : Quantitative X-Ray Diffractometry
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : پراش سنجی کمی اشعه ایکس
سری :
نویسندگان : Lev S. Zevin, Giora Kimmel (auth.), Inez Mureinik (eds.)
ناشر : Springer-Verlag New York
سال نشر : 1995
تعداد صفحات : 388
ISBN (شابک) : 9781461395379 , 9781461395355
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 14 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
یکی از مهم ترین تکنیک ها برای تعیین ساختار اتمی یک ماده، پراش اشعه ایکس است. با این حال، یکی از مشکلات بزرگ این تکنیک، این واقعیت است که فقط شدت الگوی پراش قابل اندازه گیری است، نه فاز آن. بنابراین، مشکل معکوس، تعیین ساختار از روی الگو، حاوی ابهاماتی است که باید با ابزارهای دیگر حل شوند. تجزیه و تحلیل کمی اشعه ایکس یک راه برای حل این مشکل فاز ارائه می دهد: مخلوط کردن ماده مورد نظر با ماده ای با ساختار شناخته شده تداخل هایی را ایجاد می کند که می تواند برای تولید فازهای ناشناخته تجزیه و تحلیل شود. این تکنیک که در سال 1916 اختراع شد، اما در آن زمان کمتر مورد استفاده قرار گرفت، به دلیل توسعه پراش سنج های بسیار دقیق پرتو ایکس همراه با رایانه های قدرتمند، اخیرا احیا شده است.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages i-xvii
Introduction....Pages 1-9
Physical basis....Pages 10-50
Geometric aspects of X-ray diffractometry....Pages 51-99
Methodology of quantitative phase analysis....Pages 100-225
Practical aspects of quantitative phase analysis....Pages 226-336
Industrial applications....Pages 337-354
Back Matter....Pages 355-372
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
One of the most important techniques for determining the atomic structure of a material is X-ray diffraction. One of the great problems of the technique, however, is the fact that only the intensity of the diffraction pattern can be measured, not its phase. The inverse problem, of determining the structure from the pattern thus contains ambiguities that must be resolved by other means. Quantitative X-ray analysis provides one way to resolve this phase problem: mixing the material in question with a material of known structure yields interferences that can be analyzed to yield the unknown phases. Invented in 1916, but little used at the time, the technique has seen a recent revival due to the development of extremely precise X-ray diffractometers coupled with powerful computers.