دانلود کتاب Recent Interferometry Applns. in Topography, Astronomy
کتاب برنامه های تداخل سنجی اخیر در توپوگرافی، نجوم نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب برنامه های تداخل سنجی اخیر در توپوگرافی، نجوم بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Recent Interferometry Applns. in Topography, Astronomy
نام کتاب : Recent Interferometry Applns. in Topography, Astronomy
عنوان ترجمه شده به فارسی : برنامه های تداخل سنجی اخیر در توپوگرافی، نجوم
سری :
نویسندگان : I. Padron
ناشر : Intech
سال نشر : 2012
تعداد صفحات : 230
ISBN (شابک) : 9789535104049
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 25 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
این کتاب مروری کلی بر جنبه‌های نظری و تجربی برخی از تکنیک‌های تداخل سنجی به کار رفته در توپوگرافی و نجوم ارائه می‌کند. دو فصل اول شامل تکنیک های تداخل سنجی است که برای اندازه گیری دقیق توپوگرافی سطح در کاربردهای مهندسی استفاده می شود. در حالی که فصل های سوم تا هشتم به کاربردهای تداخل سنجی مربوط به توپوگرافی زمین اختصاص دارد. فصل آخر کاربرد تداخل سنجی در نجوم است که به طور خاص برای تشخیص سیارات خارج از منظومه شمسی ما انجام می شود. هر فصل فرصتی برای گسترش دانش در مورد تکنیک های تداخل سنجی و تشویق محققان در توسعه کاربردهای تداخل سنجی جدید ارائه می دهد.
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
This book provides a current overview of the theoretical and experimental aspects of some interferometry techniques applied to Topography and Astronomy. The first two chapters comprise interferometry techniques used for precise measurement of surface topography in engineering applications; while chapters three through eight are dedicated to interferometry applications related to Earth's topography. The last chapter is an application of interferometry in Astronomy, directed specifically to detection of planets outside our solar system. Each chapter offers an opportunity to expand the knowledge about interferometry techniques and encourage researchers in development of new interferometry applications.