Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices. Methodology and Evaluation

دانلود کتاب Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices. Methodology and Evaluation

37000 تومان موجود

کتاب قابلیت اطمینان، استحکام و مکانیسم های خرابی دستگاه های LED. روش شناسی و ارزشیابی نسخه زبان اصلی

دانلود کتاب قابلیت اطمینان، استحکام و مکانیسم های خرابی دستگاه های LED. روش شناسی و ارزشیابی بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید


این کتاب نسخه اصلی می باشد و به زبان فارسی نیست.


امتیاز شما به این کتاب (حداقل 1 و حداکثر 5):

امتیاز کاربران به این کتاب:        تعداد رای دهنده ها: 6


توضیحاتی در مورد کتاب Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices. Methodology and Evaluation

نام کتاب : Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices. Methodology and Evaluation
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : قابلیت اطمینان، استحکام و مکانیسم های خرابی دستگاه های LED. روش شناسی و ارزشیابی
سری :
نویسندگان : ,
ناشر : ISTE Press - Elsevier
سال نشر : 2016
تعداد صفحات : 167
ISBN (شابک) : 1785481525 , 0081010885
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 25 مگابایت



بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.

توضیحاتی در مورد کتاب :




قابلیت اطمینان، استحکام و مکانیسم‌های خرابی دستگاه‌های LED: روش‌شناسی و ارزیابی چندین روش برای تعیین قابلیت اطمینان LED‌های مادون قرمز ارائه می‌کند. این کتاب بر روش استخراج پارامترهای اساسی از مشخصات الکتریکی و نوری تمرکز دارد. نویسندگان پارامترهای مختلف مربوط به مناطق خاص را در قطعات شناسایی کرده و سپس مکانیسم‌های شکست را بر اساس عملکرد اندازه‌گیری شده - قبل و بعد از تست‌های پیری استخراج می‌کنند. دانش مکانیزم‌های خرابی به شما امکان می‌دهد قوانین تخریب مربوط به یک معادله فیزیک را استخراج کنید تا توزیع طول عمر دقیقی ارائه شود.

  • به طور انحصاری با قابلیت اطمینان، بر اساس فیزیک خرابی LED‌های مادون قرمز سروکار دارد.
  • مکانیسم های خرابی، توزیع طول عمر و انتخاب بهترین جزء برای برنامه های کاربردی اختصاصی را شناسایی می کند
  • از یک روش کامل برای کاهش تعداد نمونه های مورد نیاز برای تخمین توزیع طول عمر استفاده می کند
  • < li>روی روش استخراج پارامترهای اساسی از مشخصات الکتریکی و نوری تمرکز دارد

فهرست مطالب :


Content:
Front matter,Copyright,PrefaceEntitled to full text1 - State-of-the-Art of Infrared Technology, Pages 1-44
2 - Analysis and Models of an LED, Pages 45-78
3 - Physics of Failure Principles, Pages 79-116
4 - Methodologies of Reliability Analysis, Pages 117-160
Bibliography, Page 161
Index, Page 163

توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :


Reliability, Robustness and Failure Mechanisms of LED Devices: Methodology and Evaluation presents several methods to determine the reliability of infrared LEDs. The book focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations. The authors identify different parameters related to specific zones in components and then extract failure mechanisms based on measured performance―before and after aging tests. The knowledge of failure mechanisms allows you to extract degradation laws related to a physics equation so an accurate lifetime distribution can then be proposed.

  • Deals exclusively with reliability, based on the physics of failure for infrared LEDs
  • Identifies failure mechanisms, lifetime distribution, and selection of the best component for dedicated applications
  • Uses a complete methodology to reduce the number of samples needed to estimate lifetime distribution
  • Focuses on the method to extract fundamental parameters from electrical and optical characterizations



پست ها تصادفی