دانلود کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
دسته: شیمی تجزیه
کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و شیوه ها نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و شیوه ها بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
نام کتاب : Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : طیف سنجی جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر اصول و شیوه ها
سری :
نویسندگان : Paul van der Heide
ناشر : Wiley
سال نشر : 2014
تعداد صفحات : 386
ISBN (شابک) : 1118480481 , 9781118480489
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 4 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
به عنوان یک مرجع عملی برای کسانی که در طیف سنجی جرمی یونی ثانویه (SIMS) دخیل هستند عمل می کند
• SIMS را همراه با زمینه های بسیار متنوع (شیمی، فیزیک، زمین شناسی و زیست شناسی) به آن معرفی می کند و با استفاده از تصاویر به روز به کار می رود
• اصول پذیرفته شده و مدل‌های مرتبط مرتبط با کندوپاش عنصری و مولکولی و انتشار یون را معرفی می‌کند
• تئوری و حالت‌های عملکرد ابزار دقیق مورد استفاده در اشکال مختلف SIMS را پوشش می‌دهد (سیم‌های استاتیک در مقابل دینامیک در مقابل یون خوشه‌ای)< br />• جزئیات نحوه انجام جمع‌آوری/پردازش داده‌ها، با تاکید بر نحوه شناسایی و اجتناب از تحریف‌های ناشی از تجزیه و تحلیل معمولاً رخ می‌دهد
• ارائه شده تا حد امکان به طور خلاصه با همه بخش‌ها به گونه‌ای که بتوان آن‌ها را شناسایی کرد. مستقل از هم بخوانند
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
Serves as a practical reference for those involved in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
• Introduces SIMS along with the highly diverse fields (Chemistry, Physics, Geology and Biology) to it is applied using up to date illustrations
• Introduces the accepted fundamentals and pertinent models associated with elemental and molecular sputtering and ion emission
• Covers the theory and modes of operation of the instrumentation used in the various forms of SIMS (Static vs Dynamic vs Cluster ion SIMS)
• Details how data collection/processing can be carried out, with an emphasis placed on how to recognize and avoid commonly occurring analysis induced distortions
• Presented as concisely as believed possible with All sections prepared such that they can be read independently of each other
پست ها تصادفی