دانلود کتاب حافظه های نیمه هادی: فناوری، آزمایش و قابلیت اطمینان بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
نام کتاب : Semiconductor memories : technology, testing, and reliability
عنوان ترجمه شده به فارسی : حافظه های نیمه هادی: فناوری، آزمایش و قابلیت اطمینان
سری :
نویسندگان : Ashok K Sharma, IEEE Solid-State Circuits Council
ناشر : New Age
سال نشر : 1996
تعداد صفحات : 274
ISBN (شابک) : 0780311140 , 9780780310001
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 12 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.