دانلود کتاب Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
کتاب تست و تشخیص VLSI و ULSI نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب تست و تشخیص VLSI و ULSI بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
نام کتاب : Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : تست و تشخیص VLSI و ULSI
سری : NATO ASI Series 151
نویسندگان : T. W. Williams (auth.), Fabrizio Lombardi, Mariagiovanna Sami (eds.)
ناشر : Springer Netherlands
سال نشر : 1988
تعداد صفحات : 530
ISBN (شابک) : 9789401071345 , 9789400914179
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 15 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
این جلد شامل مجموعه‌ای از مقالات ارائه شده در موسسه مطالعات پیشرفته ناتو در مورد آزمایش و تشخیص VLSI و ULSI است که در ویلا اولمو، کومو (ایتالیا) از 22 ژوئن تا 3 ژوئیه 1987 برگزار شد. فناوری‌های با چگالی بالا مانند Very -یکپارچه سازی در مقیاس بزرگ (VLSI)، یکپارچه سازی مقیاس ویفر (WSI) و وعده های نه چندان دور ادغام در مقیاس فوق العاده (ULSI)، مشکلات مربوط به آزمایش و تشخیص این دستگاه ها و سیستم ها را تشدید کرده است. تکنیک های سنتی به دلیل الزامات منحصر به فرد مانند کنترل پذیری و مشاهده پذیری محدود، افزایش پیچیدگی اجرا برای تولید بردار آزمایش و هزینه بالای شبیه سازی خطا، به سرعت منسوخ می شوند، فقط به چند مورد اشاره می کنیم. زمان چرخه چرخه برای یک تراشه کامپیوتری پیشرفته. اهمیت فرآیندهای آزمایش و تشخیص در صورتی که هزینه ها باید در سطوح قابل قبول نگه داشته شوند، از اهمیت اولیه برخوردار است. هدف این NATO-ASI ارائه، تجزیه و تحلیل و در مورد جنبه های مختلف آزمایش و تشخیص با توجه به تئوری و عمل بحث کنید. محتویات این جلد منعکس کننده تنوع رویکردهای موجود برای کاهش زمان تست و تشخیص است. این رویکردها به صورت مختصر و در عین حال واضح توسط متخصصان مشهور این رشته شرح داده شده است. هدف مشارکت‌های آن‌ها برای خوانندگان گسترده است: محقق ناآشنا فصل‌های آموزشی را بسیار ارزشمند می‌یابد. متخصص با تکنیک های پیشرفته به شیوه ای بسیار جامع آشنا می شود.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages i-viii
Trends in Design for Testability....Pages 1-31
Statistical Testing....Pages 33-47
Fault Models....Pages 49-68
Fault Detection and Design For Testability of CMOS Logic Circuits....Pages 69-91
Parallel Computer Systems Testing and Integration....Pages 93-116
Analog Fault Diagnosis....Pages 117-150
Spectral Techniques For Digital Testing....Pages 151-180
Logic Verification, Testing and their Relationship to Logic Synthesis....Pages 181-245
Proving the Next Stage from Simulation....Pages 247-255
Petri Nets and their Relation to Design Validation and Testing....Pages 257-272
Functional Test of Asics and Boards....Pages 273-286
Fault Simulation Techniques — Theory and Practical Examples....Pages 287-310
Threshold-Value Simulation and Test Generation....Pages 311-323
Behavioral Testing of Programmable Systems....Pages 325-353
Testing of Processing Arrays....Pages 355-381
Old and New Approaches for the Repair of Redundant Memories....Pages 383-427
Reconfiguration of Orthogonal Arrays by Front Deletion....Pages 429-467
Device Testing and Sem Testing Tools....Pages 469-506
Advances in Electron Beam Testing....Pages 509-526
Back Matter....Pages 527-533
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
This volume contains a collection of papers presented at the NATO Advanced Study Institute on ·Testing and Diagnosis of VLSI and ULSI" held at Villa Olmo, Como (Italy) June 22 -July 3,1987. High Density technologies such as Very-Large Scale Integration (VLSI), Wafer Scale Integration (WSI) and the not-so-far promises of Ultra-Large Scale Integration (ULSI), have exasperated the problema associated with the testing and diagnosis of these devices and systema. Traditional techniques are fast becoming obsolete due to unique requirements such as limited controllability and observability, increasing execution complexity for test vector generation and high cost of fault simulation, to mention just a few. New approaches are imperative to achieve the highly sought goal of the • three months· turn around cycle time for a state-of-the-art computer chip. The importance of testing and diagnostic processes is of primary importance if costs must be kept at acceptable levels. The objective of this NATO-ASI was to present, analyze and discuss the various facets of testing and diagnosis with respect to both theory and practice. The contents of this volume reflect the diversity of approaches currently available to reduce test and diagnosis time. These approaches are described in a concise, yet clear way by renowned experts of the field. Their contributions are aimed at a wide readership: the uninitiated researcher will find the tutorial chapters very rewarding. The expert wiII be introduced to advanced techniques in a very comprehensive manner.