توضیحاتی در مورد کتاب Topological Insulators: Fundamentals and Perspectives
نام کتاب : Topological Insulators: Fundamentals and Perspectives
ویرایش : 1
عنوان ترجمه شده به فارسی : عایق های توپولوژیکی: مبانی و دیدگاه ها
سری :
نویسندگان : Frank Ortmann, Stephan Roche, Sergio O. Valenzuela (eds.)
ناشر : Wiley-VCH
سال نشر : 2015
تعداد صفحات : 434
ISBN (شابک) : 3527337024 , 9783527337026
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 13 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
تنها چند اکتشاف و فناوری جدید در علوم فیزیکی وجود دارد که پتانسیل تغییر و تحول چشمگیر دنیای الکترونیکی ما را دارند. عایق های توپولوژیکی یکی از آنهاست. کتاب حاضر برای اولین بار مروری کامل و دانش عمیق در مورد این موضوع داغ در علم مواد و فیزیک ماده متراکم ارائه می دهد. تکنیک هایی مانند طیف سنجی انتشار نوری با تفکیک زاویه ای (ARPES)، تشدید مغناطیسی هسته ای پیشرفته (NMR) یا میکروسکوپ تونلی روبشی (STM) همراه با اصول کلیدی عایق های توپولوژیکی مانند حالت های الکترونیکی قفل چرخشی، نقطه دیراک، کوانتومی جلوههای سالن و فرمیونهای Majorana در فصلهای جداگانه روشن شدهاند و به شکلی واضح و منطقی توضیح داده شدهاند. این کتاب که توسط یک تیم بین المللی از کارشناسان نوشته شده است، که بسیاری از آنها مستقیماً در اولین کشف عایق های توپولوژیکی نقش داشتند، دانش مورد نیاز خوانندگان را برای درک رفتار الکترونیکی این مواد منحصر به فرد فراهم می کند. این کتاب که بیش از یک اثر مرجع است، برای تازه واردان و محققان پیشرفته ای که در زمینه عایق های توپولوژیکی کار می کنند ضروری است.
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
There are only few discoveries and new technologies in physical sciences that have the potential to dramatically alter and revolutionize our electronic world. Topological insulators are one of them. The present book for the first time provides a full overview and in-depth knowledge about this hot topic in materials science and condensed matter physics. Techniques such as angle-resolved photoemission spectrometry (ARPES), advanced solid-state Nuclear Magnetic Resonance (NMR) or scanning-tunnel microscopy (STM) together with key principles of topological insulators such as spin-locked electronic states, the Dirac point, quantum Hall effects and Majorana fermions are illuminated in individual chapters and are described in a clear and logical form. Written by an international team of experts, many of them directly involved in the very first discovery of topological insulators, the book provides the readers with the knowledge they need to understand the electronic behavior of these unique materials. Being more than a reference work, this book is essential for newcomers and advanced researchers working in the field of topological insulators.