دانلود کتاب Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
کتاب کاربردهای طیف سنجی جرمی یونی ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب کاربردهای طیف سنجی جرمی یونی ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
نام کتاب : Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
عنوان ترجمه شده به فارسی : کاربردهای طیف سنجی جرمی یونی ثانویه با وضوح بالا (SIMS) در تجزیه و تحلیل سطح
سری : Forschungsbericht des Landes Nordrhein-Westfalen 3049
نویسندگان : Prof. Dr. Günther von Bünau, Dr. Klaus-Dieter Klöppel (auth.)
ناشر : VS Verlag für Sozialwissenschaften
سال نشر : 1981
تعداد صفحات : 26
ISBN (شابک) : 9783531030494 , 9783322875280
زبان کتاب : German
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 2 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
فهرست مطالب :
Front Matter....Pages N1-1
Einleitung....Pages 3-4
Apparatur....Pages 4-5
Allgemeines zur Sekundärionisierung....Pages 5-7
Sekundärionenausbeute....Pages 8-8
Nachweisempfindlichkeit....Pages 9-9
Hochauflösung....Pages 10-14
Fragmentierung organischer Verbindungen....Pages 14-21
Schlußbemerkung....Pages 22-22
Back Matter....Pages 23-25
پست ها تصادفی