دانلود کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
دسته: سازمان و پردازش داده ها
کتاب تست عیب گرا برای مدارهای نانو متریک CMOS VLSI نسخه زبان اصلی
دانلود کتاب تست عیب گرا برای مدارهای نانو متریک CMOS VLSI بعد از پرداخت مقدور خواهد بود
توضیحات کتاب در بخش جزئیات آمده است و می توانید موارد را مشاهده فرمایید
توضیحاتی در مورد کتاب Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
نام کتاب : Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ویرایش : 2
عنوان ترجمه شده به فارسی : تست عیب گرا برای مدارهای نانو متریک CMOS VLSI
سری : Frontiers in Electronic Testing Book 34
نویسندگان : Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
ناشر : Springer
سال نشر : 2007
تعداد صفحات : 342
ISBN (شابک) : 9780387249933 , 0387249931
زبان کتاب : English
فرمت کتاب : pdf
حجم کتاب : 6 مگابایت
بعد از تکمیل فرایند پرداخت لینک دانلود کتاب ارائه خواهد شد. درصورت ثبت نام و ورود به حساب کاربری خود قادر خواهید بود لیست کتاب های خریداری شده را مشاهده فرمایید.
توضیحاتی در مورد کتاب :
نسخه 2دوم تست نقص محور به طور گسترده به روز شده است. فصل‌های جدیدی در مورد مدل‌های عیب عملکردی، پارامتری و تحلیل خطای القایی و مهندسی بازده اضافه شده‌اند تا پیوندی بین منابع نقص و بازده ارائه شود. فصل تست رم با تمرکز بر تست پایداری پارامتریک و SRAM به روز شده است. به طور مشابه، مواد جدیدتر در فصل های مدل سازی خطای دیجیتال و تست آنالوگ گنجانده شده است. نقطه قوت تست نقص محور برای CMOS VLSI های نانو متریک در ارتباط صنعتی آن نهفته است.
فهرست مطالب :
front-matter......Page 1
01-Introduction......Page 19
02-Functional and Parametric Defect Models......Page 41
03-Digital CMOS Fault Modeling......Page 86
04-Defects in Logic Circuits and their Test Implications......Page 128
05-Testing Defects and Parametric Variations in RAMs......Page 168
06-Defect-Oriented Analog Testing......Page 241
07-Yield Engineering......Page 304
08-Conclusion......Page 331
back-matter......Page 339
توضیحاتی در مورد کتاب به زبان اصلی :
The 2nd edition of defect oriented testing has been extensively updated. New chapters on Functional, Parametric Defect Models and Inductive fault Analysis and Yield Engineering have been added to provide a link between defect sources and yield. The chapter on RAM testing has been updated with focus on parametric and SRAM stability testing. Similarly, newer material has been incorporated in digital fault modeling and analog testing chapters. The strength of Defect Oriented Testing for nano-Metric CMOS VLSIs lies in its industrial relevance.
پست ها تصادفی